QFN52-0.4翻盖弹片测试座/老化座
产品简介
产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试
适用封装:QFN52引脚间距0.4mm
测试座:QFN52-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
规格尺寸
型号:QFN52-0.4
引脚间距(mm):0.4
脚位:52
适配芯片尺寸: 7*7mm
QFN52-0.4老化座0.4mm芯片测试座，编程座7，7
2020-01-02 17:01 909次浏览
价 格：
￥ 245
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