QFN36-0.5,翻盖弹片测试座,qfn36老化座
QFN36翻盖弹片测试座
产品简介
产品用途编程座、测试座,对QFN36的IC芯片进行烧写、测试适用封装QFN36引脚间距0.5mm测试座QFN36-0.5特点底部引出引脚为不规则排列
规格尺寸
QFN36编程座/测试座适用芯片详细规格,以及适配座外形尺寸:
型号引脚间距(mm)脚位芯片尺寸QFN-36-0.50.5366*6
深圳市鸿怡电子有限公司
地址:宝安区西乡街道劳动社区圣淘沙骏园3A1103
联系:唐各威
手机:13826578242